3.3　多糖形貌测定技术

3.3.1　扫描电镜测定技术

扫描电镜是将入射电子在加速高压的作用下与样品作用进而观察样品表面的特征。郭琦选用环境扫描电镜观察枸杞多糖的形貌特征，结果发现在2500倍电镜下枸杞多糖LBP3-Ⅰ呈现多分支的链状结构^［33］。

3.3.2　原子力显微镜测定技术

原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）是利用原子、分子间的相互作用力来观察物体表面微观形态的新型技术^［34］。曾伟才等使用原子力显微镜分析木耳均一多糖结构，观察得出木耳多糖平均直径为30nm，平均高度为1.33nm，平均体积为665.2nm^［35］。