如图2-9所示，根据上述Bragg衍射方程，如果已知晶体的d值，通过X射线光谱仪测定θ角，可得到样品中元素的特征辐射波长λ，从而可以确定所含元素的种类，此即X射线荧光光谱仪的工作原理。而如果我们采用波长已知为λ的光源作为激发源，通过X射线光谱仪测定θ角后，计算产生衍射的晶体的d值，就可以知道所分析物质的晶格间距，从而了解待测物的结构性质，这即是X射线衍射分析（XRD）的工作原理。
图2-9 晶格间距与衍射波长间的关系
