整机装联工艺与技术
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1.2 电子装联技术发展史

电子装联技术随着电子封装技术的发展而发展,因为一代封装形式决定了一代装联技术,所以谈装联技术的发展史就必须从元器件的封装史谈起。

电子装联技术几十年来经过了五个发展阶段和通孔插装、表面组装及微组装三次变革,从20世纪50年代的电子管到60年代与集成电路同时出现的THT(通孔插装技术),然后被80年代的SMT技术所代替,IC(集成电路)封装由DIP(双列直插式)向SOIC(小外形封装集成电路)、PLCC(J形引脚器件)方向发展。90年代是IC封装的迅速发展时期,IC封装从周边端子型(以QFP器件为代表)向球栅阵列型(以BGA、CSP器件为代表)转变。进入21世纪后,现代芯片封装技术发展日新月异,快速地推动了SMT(表面组装技术)迈入到后SMT (post-SMT)时代。一些超高性能、超微型化、超薄型化的产品异军突起,已经使得传统的SMT概念及流程操作越来越显得无能为力。现在这些技术还在向纵深发展,与微组装技术交织在一起,成了装联界人们关注的焦点,也是电子装联技术最新的发展动向。

电子装联技术发展历程表如表1-1所示。

表1-1 电子装联技术发展历程表